پاورپوینت درباره مطالعه نانو ذرات توسط ميكروسكوپ الكتروني عبوري روبشي - دانلود فایل

دانلود فایل پاورپوینت درباره مطالعه نانو ذرات توسط میکروسکوپ الکترونی عبوری روبشی

دانلود فایل پاورپوینت درباره مطالعه نانو ذرات توسط ميكروسكوپ الكتروني عبوري روبشي لینک دانلود و خرید پایین توضیحات

دسته بندی: Powerpoint

نوع فایل: ppt (قابل ويرايش و آماده پرينت)

تعداد اسلاید: 27 اسلاید
قسمتی از متن فایل دانلودی
مقدمه lدستگاه هاي STEM براي بدست آوردن اطلاعات ساختاري، شيميايي و مورفولوژيكي درباره نانوذرات در مقياس اتمي يا نانومتري ساخته مي شوند. llويژگي جالب ديگر STEM انعطاف پذيري بسيار زياد آن در سيستم آشكارسازي است.
lسيگنالهاي مختلفي كه از سطح مشخصي از نمونه توليد مي شوند مي توانند بطور جداگانه يا بطور همزمان جمع آوري شوند و براي بدست آوردن اطالاعات تكميلي از نمونه مورد استفاده قرار گيرند.llهيچ چرخشي بين صفحات شييء و تصوير وجود ندارد و بزرگنمايي ميكروسكوپ مي تواند بدون كانوني كردن مجدد باريكه الكتروني براي حصول يك تصوير كانوني ، تغيير داده شود. lقدرت تفكيك تصاوير STEM توسط اندازه باريكه برخوردي، پايداري ميكروسكوپ و ويژگي هاي ذاتي فرايندهاي توليد سيگنال تعيين مي شود.lتصويربرداري چندگانه و آشكارسازهاي تحليلي براي جمع آوري همزمان چندين سيگنال كه بتوانند بطور مجزا يا به همراه هم نمايش داده شوند، ايجاد شده اند. ll قابليت مهم دستگاه هاي STEM، تشكيل باريكه هاي با روشنايي بالا است.
lبراي ايجاد چنين باريكه الكتروني نانومتري، استفاده از تفنگ نشر ميداني (FEG) براي ايجاد سيگنالهاي قوي به منظور مشاهده و ثبت تصاوير، طيف ها و الگوهاي تفرق در STEM ضروري است.
l منبع FEG حداقل 103 برابر روشنايي بيشتر از فيلامانهاي تنگستن يا LaB6 كه بطور متداول در دستگاه هاي TEM استفاده مي شوند، دارند در حاليكه قطر منبع الكترون فقط حدود 4-5 nm است.lسيگنالهاي توليد شده درداخل يك ميكروسكوپ STEMlحالت هاي مختلف تصويربرداريllبا جمع آوري الكترونهاي تفرق يافته با زاويه زياد توسط يك آشكارساز حلقوي، تصاوير زمينه تيره حلقوي با زاويه زياد (HAADF) يا تصاوير كنتراست Z براي بدست آوردن اطلاعاتي از تغييرات ساختاري در مقياس اتمي، بدست مي آيند.
lطيف سنجي اتلاف انرژي الكترون (EELS) و طيف سنجي پراكنش انرژي اشعه X (XEDS) مي توانند داده هاي كمّي در مورد تغييرات ساختار الكتروني، تركيب عنصري يا حالت اكسيداسيون مربوط به ساختارهاي ناهمگن بدست دهند. lتركيب تكنيك هاي XEDS و EELS با تكنيك تصويربرداري HAADF مي تواند اطلاعات جزئي در مورد تركيب، شيمي و ساختار الكتروني و كريستالي نانوذرات را با قدرت تفكيك و حساسيت اتمي حاصل كند.

پاورپوینت

مطالعه

نانو

ذرات

توسط

میکروسکوپ

الکترونی

عبوری

روبشی

مقاله